2016年5月13日，美信檢測舉辦的《高端分析技術于電子電器行業應用專題研討會》在深圳寶立方博覽中心盛大召開，會議圍繞高精度CT于制造業的應用、電子產品失效分析及高端表面分析技術展開探討，結合經典案例，剖析專業技術的應用，精細講解行業技術難題。本次研討會吸引企業多達80家左右，其中不乏行業內的龍頭企業，約180位行業精英共聚一堂，分享探討產品生產過程中的技術問題。

本次研討會在高精度CT于制造業的應用部分詳細講解了高精度CT的原理、高精度CT的應用與經典案例剖析；在電子產品失效分析部分詳細講解了電子聯裝技術可靠性概述，焊點可靠性簡介與案例分享，上錫不良、焊點開裂、焊點腐蝕、漏電等問題探討及案例分享；在表面分析技術方面分享了俄歇電子能譜（AES）、X射線光電子能譜（XPS）、飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）、動態二次離子質譜（D-SIMS）、離子研磨拋光（CP）、聚焦離子束（FIB）、原子力顯微鏡（AFM） 等技術應用，以及表面樣品制備技術和材料表面表征等專業技術，引起同行業精英的強烈反響，并得到一致好評。

會議中，很多行業精英積極提問。對于高精度CT方面，客戶較為關注小樣品的檢測要求，樣品的缺陷分析等內容。對于電子產品可靠性檢測技術失效分析方面，更多客戶關注相關產品的焊接、焊縫等問題。而對于高端表面分析技術方面，客戶與講師更多的討論了不同的產品更適合使用哪一種表面分析技術，從應用、使用優勢及使用條件等方面進行了深入探討。

美信檢測通過專業的知識講解，實際案例的剖析，解決客戶在產品工藝方面遇到的技術難題，分享美信檢測如何幫助客戶解決這些問題，針對不同問題提出的一站式解決方案，真正解決客戶關心的問題，為客戶產品品質保駕護航。

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