2016年10月26-28日，CHInano2016第七屆中國國際納米技術產(chǎn)業(yè)博覽會（簡稱“納博會”）將于蘇州國際博覽中心盛大開幕，該展會聚焦納米新材料、分析與檢測、微納制造、MEMS、納米生物與醫(yī)藥、納米環(huán)保與清潔等領域的產(chǎn)品與技術，打造中國最具價值的納米展場，美信檢測作為材料行業(yè)的合作伙伴，受邀參展。

美信檢測將于納博會展示多項檢測項目，包含新材料/新工藝分析、材料表面結構及成分分析及失效分析，其中不乏高端分析項目。

新材料/新工藝分析

項目分析：作為一家專注于材料和零部件檢驗及分析的專業(yè)第三方實驗室，憑借多年的檢驗、分析經(jīng)驗，可以幫助研發(fā)單位制訂新材料/新工藝的質(zhì)量評價方案，幫助買家依據(jù)相關標準或規(guī)格書驗證新材料的關鍵技術參數(shù)，出具專業(yè)檢測、分析報告。

項目展示：新興電子信息材料、高端金屬結構材料、先進高分子材料、新型無機非金屬材料、高性能的復合材料、前沿新材料。

案例圖片：

PCB切片分析	芯片SEM圖片

材料表面結構及成分分析

項目分析：利用電子、光子、離子、原子、強電場、熱能等與固體表面的相互作用，測量從表面散射或發(fā)射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質(zhì)譜、空間分布或衍射圖像，得到表面成分、表面結構、表面電子態(tài)及表面物理化學過程等信息，包括表面元素組成、化學態(tài)及其在表層的分布測定等。

項目展示：俄歇電子能譜分析（AES）、X射線光電子能譜分析（XPS）、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS)、動態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS)、聚焦離子束（FIB）、透射電子顯微鏡（TEM）、X射線衍射分析（XRD）。

案例圖片：

LED碎片金相顯微鏡觀察	微米級缺陷樣品截面制備
離子成像觀察銅箔金相調(diào)整	PCB焊盤測試

失效分析

項目分析：通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的失效產(chǎn)品明確失效模式、分析失效機理，最終明確失效原因。

項目展示：電子元器件失效分析、金屬材料失效分析、高分子材料失效分析、復合材料失效分析、PCB/PCBA失效分析等。

案例圖片：

電梯按鈕PC外框斷裂失效	發(fā)光二極管開路失效
二極管短路失效	IC分層失效

美信檢測是一家具有CNAS與CMA認可資質(zhì)的商業(yè)實驗室，專注于為客戶提供材料品質(zhì)檢驗、鑒定、認證及失效分析等專業(yè)技術服務，美信檢測即將亮相2016納博會，在此，誠邀您蒞臨美信檢測展位參觀洽談，展位號：118號。

展會福利：

1. 精美禮品，來了就送；

2. 展會現(xiàn)場專業(yè)技術工程師面對面交流，免費咨詢技術問題；

3. 現(xiàn)場贈送一份美信檢測“2016失效分析與測試案例精選”期刊，年度經(jīng)典案例解說等著你。

*** 結束 ***

MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質(zhì)檢驗、鑒定、認證及失效分析服務的第三方實驗室，網(wǎng)址：czyx888.com，聯(lián)系電話：400-850-4050。