IC常見的失效現(xiàn)象有哪些？其對應的失效應力是什么？如何對集成IC進行失效分析與故障排除？電子制造資訊站將于8月27號本周五下午三點開展線上直播，分享IC的失效分析方法！

本周五分享：集成IC失效分析與故障排除方法

課程大綱

1、IC常見的失效現(xiàn)象

2、IC失效現(xiàn)象對應的失效應力

    2.1 EOS

    2.2 ESD

    2.3 虛焊

    2.4 機械應力

3、失效機理

4、故障排查和故障再現(xiàn)方法

講師介紹

武曄卿，美信檢測專家顧問。電子工程碩士，研究領域：電子系統(tǒng)設計與測試技術。

曾任航天二院總體設計所主任設計師，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。出版專著《嵌入式系統(tǒng)可靠性設計技術與案例解析》（北航出版社，第2版再版）、《電路設計工程計算》（電子出版社）。

專注于電子產品可靠性設計、測試、失效分析與整改、工程計算、技術方法論的研究。

活動詳情

時間：2021年8月27日 15:00

形式：直播互動，提供回看，請務必加入交流群

課程原價399元，限時免費！

公眾號后臺回復“123”免費獲取聽課和入群資格！

長按識別二維碼回復：123

直播合作

電子制造資訊站將持續(xù)舉辦線上技術交流會，有意向合作擔任講師的可聯(lián)系劉先生（手機號碼：13392891259，微信同）了解詳情！